8 (800) 200-54-17 +7 (4712) 54-54-17
Cовременное тестовое оборудование и технологии
Отправить запрос Техподдержка
info@sovtest-ate.com
service@sovtest-ate.com
Рус Eng

FT-17HF

Основное назначение комплекса — параметрический, динамический и функциональный контроль цифровых и цифро-аналоговых микросхем на частотах до 200 МГц.

Основу Комплекса составляет набор универсальных плат, выполненных по технологии «тестер-на-канал». Подобная архитектура позволяет получить максимум измерительных возможностей при минимальном времени контроля и затратах на изготовление измерительной оснастки.

В состав Комплекса может входить до 12-ти универсальных плат, общим количеством выводов до 768-ми, а также специализированные платы для контроля компонентов смешанного сигнала.

Дополнительно к базовым возможностям в системе могут быть реализованы заданные алгоритмы тестирования структур памяти (галоп, марш, шахматы и др.)


Области применения:

  • Выходной контроль параметров интегральных микросхем (в корпусе и на полупроводниковой пластине) на производстве и в лабораторных условиях.
  • Входной контроль параметров интегральных микросхем на предприятиях-потребителях.
  • Научно-исследовательские работы, контроль граничных параметров изделий микроэлектроники.
  • Образовательный процесс, изучение принципов работы микроэлектроники и тестового оборудования.

Отличительные особенности:

  • Высокая производительность — за счет современной архитектуры «тестер-на-канал» и широких возможностей параллельного контроля.
  • Универсальность — контроль как цифровых, так и цифро-аналоговых схем.
  • Гибкость — конфигурация тестера может легко изменяться и наращиваться при необходимости.
  • Измерительная часть тестера выполнена с применением последних технологий в области компонентой базы.
  • Простота создания тестовых последовательностей.
  • Простота в эксплуатации и обслуживании.
  • Возможность непосредственной стыковки («жёсткая» стыковка) с автоматическими загрузчиками изделий (зондовые установки, проходные камеры и др.).
Модель FT-17HF
Количеств измерительных каналов 768 (до 12 плат по 64 канала)
Максимальная частота следования тестовых векторов 400 Mbps
Дискретность задания временных параметров 39 пс
Количество временных меток на канал 4 или 8 (в режиме мультиплексирования)
Максимальное рассогласование каналов ±250 пс (пикосекунд)
Глубина памяти тестовых векторов на канал 128 Мбит (расширение до 256 Мбит)
Диапазон задания напряжения — 2… +6 В (или 0… +8 В)
Максимальная потребляемая мощность  4 кВт (киловатт)
Система охлаждения воздушная
Сжатый воздух/вакуум не требуется
Смежные продукты
image
Функциональный тестер FT-17M
Комплекс измерительный FT-17M предназначен для проведения функционального контроля электронных модулей различного назначения и вариантов исполнения.
image
FT-17SC
Комплекс предназначен для задания и контроля электрических режимов полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, оптопар, транзисторов, MOSFET, IGBT, симисторов и др. полупроводниковых приборов) на этапе проведения их испытаний и проведения измерений электрических параметров и характеристик изделий в процессе проведения исследований.
image
FT-17R
Многофункциональный тестер реле FT-17R предназначен для измерения параметров электромагнитных реле постоянного и переменного тока на соответствие технических условий и требований ГОСТ 16121–86. Исполнение тестера реле — 19” стойка рабочим местом оператора.
image
Система восстановления принципиальной схемы для электронных модулей FT-17 RE
FT-17RE – это универсальный тестер, разработанный специально для обратного проектирования электронных модулей с целью восстановления их исходных данных (принципиальной схемы, списка цепей). Применяемая технология позволяет объединять элементы платы в цепи, а использование клипс и фиксированных пробников на 4D манипуляторах максимально упрощают процесс воссоздания схем и сокращают время ремонта изделий.
Тестер светодиодов FT-17LED
Отправить запрос