Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Sovtest (Россия)

Стенд измерительный FT-17MINI-9U предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифровых и цифро-аналоговых микросхем при их производстве и входном контроле.

Стенд FT-17MINI-9U представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов напряжения и тока, или сравнении выходных сигналов с заданными (ожидаемыми) сигналами.

Объекты контроля и измерений:

  • цифровые ИС произвольной логики (ПЛИС, микропроцессоры, микроконтроллеры, ИС стандартной логики и т.п.);
  • запоминающие устройства (ОЗУ, ПЗУ различных типов);
  • RFID (радиочастотные метки, смарт-карты).

Отличительные особенности:

Стенд FT-17MINI-9U может содержать до 384 универсальных каналов, до 144 дополнительных каналов источников-измерителей статических параметров и до 144 каналов измерительных источников питания.


Области применения:

  • Выходной контроль параметров микроэлектронных компонентов и систем (в корпусе и на полупроводниковой пластине) на производстве и в лабораторных условиях.
  • Входной контроль параметров микроэлектронных компонентов и систем на предприятиях-потребителях ЭКБ.
  • Научно-исследовательские работы, контроль граничных параметров микроэлектронных компонентов и систем, сертификационные испытания.

Посмотреть весь перечень реализованных тестовых решений вы можете по ссылке



Смежные продукты
image
Стенд измерительный FT-17HF-768 предназначен для параметрического, динамического и функционального контроля цифровых и цифро-аналоговых микросхем на частотах до 200 МГц.
Sovtest (Россия)
image
Стенд измерительный FT-17DT-256 предназначен для параметрического, динамического и функционального контроля цифровых и цифро-аналоговых микросхем на частотах до 200 МГц
Sovtest (Россия)
image
Стенд измерительный FT-17MINI предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифровых и цифро-аналоговых микросхем при их производстве и входном контроле.
Sovtest (Россия)
image
Система UltraFLEX предназначена для тестирования практически всех существующих устройств, от обычной цифровой логики и операционных усилителей до сложнейших современных БИС, включая System-On-Chip (SOC) до System In Package (SIP).
Teradyne
image
Система MicroFLEX предназначена для тестирования практически всех существующих устройств, от обычной цифровой логики и операционных усилителей до сложнейших современных БИС, включая System-On-Chip (SOC) до System In Package (SIP).
Teradyne
image
Система J750Ex-HD предназначена для функционального и параметрического контроля сложных микросхем со сверхбольшой степенью интеграции VLSI (Very-Large-Scale Integration) от микроконтроллеров до интегральных схем специального назначения ASIC (Application-Specific Integrated Circuit) при разработке, производстве и испытаниях изделий электронной техники.
Teradyne
Тестер микросхем FT-17DT-256 Тестер микросхем FT-17MINI
Отправить запрос