Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Sovtest (Россия)

Стенд измерительный FT-17DT-256 предназначен для параметрического, динамического и функционального контроля цифровых и цифро-аналоговых микросхем на частотах до 200 МГц

Стенд FT-17DT-256 представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов напряжения и тока, или сравнении выходных сигналов с заданными (ожидаемыми) сигналами.
Основной аппаратной частью стенда являются универсальные каналы, каждый из которых включает в себя генератор тестовой последовательности, драйвер (источник напряжения), компаратор напряжения, активную нагрузку, источник-измеритель статических параметров.
 
Кроме универсальных каналов, имеются дополнительные каналы источников-измерителей статических параметров с расширенными диапазонами напряжения и силы тока, и каналы измерительных источников питания.

Отличительные особенности:

Стенд FT-17DT-256 выполнен в настольном исполнении и представляет собой измерительный блок, работающий под управлением внешнего компьютера.
Каналы размещаются на платах канальной электроники, каждая плата содержит 64 универсальных канала, 8 дополнительных каналов источников-измерителей статических параметров и 8 каналов измерительных источников питания. В стенде FT-17DT-256 может быть установлено до 4-х плат канальной электроники.
Стенд позволяет выполнять полное функциональное и параметрическое тестирование  с частотой до 200 МГц  на канал.
Объекты контроля и измерений:
  • цифровые ИС произвольной логики (ПЛИС, микропроцессоры, микроконтроллеры, ИС стандартной логики и т.п.);
  • запоминающие устройства (ОЗУ, ПЗУ различных типов);
  • аналого-цифровые ИС (АЦП, ЦАП, системы на кристалле);
  • RFID (радиочастотные метки, смарт-карты).

Области применения:

  • Выходной контроль параметров микроэлектронных компонентов и систем (в корпусе и на полупроводниковой пластине) на производстве и в лабораторных условиях.
  • Входной контроль параметров микроэлектронных компонентов и систем на предприятиях-потребителях ЭКБ
  • Научно-исследовательские работы, контроль граничных параметров микроэлектронных компонентов и систем, сертификационные испытания.

Посмотреть весь перечень реализованных тестовых решений вы можете по ссылке

 
Смежные продукты
image
Комплекс измерительный FT-17M предназначен для проведения функционального контроля электронных модулей различного назначения и вариантов исполнения.
Sovtest (Россия)
image
Стенд измерительный FT-17HF-768 предназначен для параметрического, динамического и функционального контроля цифровых и цифро-аналоговых микросхем на частотах до 200 МГц.
Sovtest (Россия)
image
Тестеры микросхем производства компании Teradyne, США предназначены для функционального и параметрического контроля интегральных схем (ИС) различной степени интеграции (от малой до сверхбольшой).
Teradyne
image
Тестер полупроводниковых приборов и компонентов FT-17SC предназначен для задания и контроля электрических режимов полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, оптопар, транзисторов, MOSFET, IGBT, симисторов и др. полупроводниковых приборов) на этапе проведения их испытаний и проведения измерений электрических параметров и характеристик изделий в процессе проведения исследований.
Sovtest (Россия)
image
Многофункциональный тестер реле FT-17R представляет свою новую разработку компании ООО «Совтест АТЕ» , который предназначен для измерения параметров электромагнитных реле постоянного и переменного тока на соответствие технических условий и требований ГОСТ 16121-86. Исполнение тестера реле - 19” стойка рабочим местом оператора.
Sovtest (Россия)
image
Тестер светодиодов FT-17LED представляет собой комплекс средств измерений как электрических, так и оптических параметров светодиодов. В качестве измерителей электрических параметров используется серийно выпускаемый ООО «Совтест АТЕ» комплекс измерительный FT-17, для контроля фото- и радиометрических параметров – оборудование компании INSTRUMENTS SYSTEM, Германия. Применяемое оборудование для контроля характеристики светодиодов полностью соответствует требованиям комитета CIE (Commission Internationale de l'Eclairage) и позволяет провести тщательный анализ и калибровку оптоэлектронных компонентов и устройств.Назначение:
- Контроль параметров светодиодов на производстве
- Контроль параметров светодиодных модулей, панелей и дисплеев на производстве
- Сертификационные испытания
- Ислледование физических характеристик оптоэлеткронных приборов и модулей

Отличительные особенности:
- Универсальность и гибкость системы, позволяющее осуществлять поставку заказчику решения «под ключ»
- Быстрая переналаживаемость в условиях производства
- Полный сооветствие требованиям международных стандартов по тестированию оптоэлектронных приборов
- Возможность интеграции системы с сортировщиками светодиодов и зондовыми установками для тестирования на кристале
- Компактное исполнение (настольное) по запросу
Sovtest (Россия)
image
Система тепловизионного контроля электронных модулей представляет собой комплекс для контроля и последующего анализа теплового поля тестируемого изделия в инфракрасном диапазоне.
Sovtest (Россия)
image
Стенд измерительный FT-17DT представляет собой настольный вариант тестера FT-17HF (англ.: DT, desk top – настольный), предыдущей разработки специалистов «Совтест АТЕ» в области контроля качества изделий микроэлектроники.
Sovtest (Россия)
Тестер микросхем FT-17HF-768 Тестеры микросхем для функционального и параметрического контроля ИС и СБИС, Teradyne, США
Отправить запрос