ООО «Совтест АТЕ» предложило принципиально новые решения для повышения уровня надежности современной электронной компонентной базы (ЭКБ). Более подробно о них рассказали специалисты предприятия, а также представители зарубежных компаний-партнеров ООО «Совтест АТЕ», которые выступили с докладами на всесоюзной научно-технической конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой». Мероприятие прошло с 23 по 25 марта в Санкт-Петербурге, в качестве организатора выступило ОАО «РНИИ «Электронстандарт»» - ведущая организация радиоэлектронной промышленности в области сертификации и стандартизации ЭКБ.
В ходе конференции были затронуты главные проблемы, волнующие в настоящий момент большинство представителей отечественной аэрокосмической отрасли. В частности, – связанные с комплектацией высоконадежной аппаратуры, методологией выбора и степенью радиационной стойкости ЭКБ отечественного и иностранного производства, оптимизацией сертификационных испытаний зарубежной ЭКБ. Участники мероприятия также обсудили нынешнее состояние электронной компонентной базы и определили дальнейшие перспективы ее развития с целью повышения надежности и радиационной стойкости.
Важной частью мероприятия стало выступление представителя крупнейшей зарубежной испытательной лаборатории RoodMicrotec (Германия), Рейнарда Перча, который рассказал о критериях выбора и надежности светодиодов и светоизлучающих устройств на их основе. На протяжении 40 лет специалисты лаборатории ведут перспективные разработки в области проверки качества опто- и микроэлектронных изделий. Сегодня RoodMicrotec, обладая уникальной испытательной лабораторией, осуществляет различные виды анализа, как методами неразрушающего контроля, так и путем проведения структурного анализа и др., позволяя с максимальной точностью выявлять некачественные изделия. Помимо этого, специалистами ООО «Совтест АТЕ» было представлено оборудование, выпускаемое EDA Industries S.p.a. (Италия) – ведущим европейским производителем оборудования для испытания интегральных микросхем. Данная компания имеет колоссальный опыт в разработке инновационных высокоэффективных решений. Именно поэтому системы электротермотренировки радиоэлектронных компонентов под брендом EDA Industries обеспечивают условия испытаний, соответствующие даже самым жестким требованиям зарубежных и отечественных стандартов, включая требования АКБ к космической аппаратуре.
В заключение ООО «Совтест АТЕ» представило свою последнюю разработку – тестер функционального и параметрического контроля микросхем широкой номенклатуры FT-17 HF, который можно назвать новым шагом в развитии отечественных систем контроля параметров ЭКБ. Данное оборудование позволяет проводить весь набор контрольно-измерительных операций, необходимых при производстве интегральных микросхем, тем самым гарантируя качество выпускаемой продукции.
Основное назначение комплекса – параметрический, динамический и функциональный контроль цифровых и цифро-аналоговых микросхем на частотах до 200 МГц. Основу тестера составляет набор универсальных плат, выполненных по технологии «тестер-на-канал». Подобная архитектура позволяет получить максимум измерительных возможностей при минимальном времени контроля и затратах на изготовление измерительной оснастки.
Таким образом, активное участие ООО «Совтест АТЕ» в конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой» еще раз подтверждает огромный потенциал компании в области поставки и разработки решений для контроля качества продукции любой степени сложности. В этом году компания не только показала наиболее эффективные решения от известных мировых производителей, но и продемонстрировала собственные разработки, основанные на новейших перспективных технологиях.