- Тестовое оборудование для микроэлектроники и компонентов
- Контроль печатных плат
- Системы автоматической оптической инспекции несмонтированных печатных плат (АОИ+АВИ)
- Внутрисхемное тестирование с летающими пробниками
Свернуть
Развернуть
Перемещение компонентов происходит путем перемещения...
Конструктивные особенности:
- Перемещение компонентов происходит путем перемещения захватов ( плунжеров) по кругу турели, перекладывая...
Сортировщик Pick and Place для тестирования ЭКБ
Манипуляторы предназначены для подключения к системам электротестирования с целью контроля параметров изделий микроэлектроники ...
Гравитационный сортировщик для микросхем в корпусе DIP8...
Гравитационный сортировщик для микросхем в корпусе DIPS,SOP4 и SOP6L с опцией нагрева предназначен для подключения к системам электротестирования...