- Тестовое оборудование для микроэлектроники и компонентов
- Контроль печатных плат
- Системы автоматической оптической инспекции несмонтированных печатных плат (АОИ+АВИ)
- Внутрисхемное тестирование с летающими пробниками
Комплексы ЭТТ производства ООО «Совтест АТЕ» предоставляют следующие возможности для проведения испытаний:
- Задание тепловых режимов испытаний в требуемом диапазоне.
- Задание электрических режимов и контроль выходных параметров изделия....
Стенд FT-17MINI-9U представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов...
- Выявление дефектных и контрафактных электронных компонентов на этапе входного контроля.
- Сокращение расходов на устранение дефекта конечного изделия.
- Исключение человеческого фактора в принятии решения о качестве...
Область применения:
- Приемо-сдаточные испытания ЭКБ.
- Входной контроль ЭКБ
- Квалификационные и отбраковочные испытания ЭКБ.
Конструктивные особенности:
- Перемещение компонентов происходит путем перемещения захватов ( плунжеров) по кругу турели, перекладывая изделие с одного поста на другой. Конфигурация и количество постов турельных сортировщиков настраиваемые,...
Манипуляторы предназначены для подключения к системам электротестирования с целью контроля параметров изделий микроэлектроники при температурах от минус 60 до плюс 155° С и последующей их сортировкой по результатам тестирования.Манипуляторы ...
Зондовая установка предназначена для работы со стандартными полупроводниковыми пластинами диаметром , 6 ̋ ,8 ̋ и 12 ̋.
Зондовая установка обеспечивает работу с пластинами толщиной от 350 до 2200 мкм (стандартные ...
Зондовая установка предназначена для работы со стандартными полупроводниковыми пластинами диаметром 4 ̋, 5 ̋ , 6 ̋ и 8 ̋.
Зондовая установка обеспечивает работы загрузку/выгрузку пластин в стандартные кассеты на 13 позиций для пластин диаметром...
...
Гравитационный сортировщик для микросхем в корпусе DIPS,SOP4 и SOP6L с опцией нагрева предназначен для подключения к системам электротестирования с целью контроля параметров изделий и их последующей сортировкой по результатам тестирования. Перемещение...